中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
 |
GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
|
GB/T 6609.35-2023 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法（中英文版） Methods for chemical analysis and determination of physical properties of alumina Part 35: Determination of specific surface area Nitrogen adsorption method |
 |
|
|
|
GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准（中英文版） Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Determination of geometric quantities using scanning probe microscopy: Calibration of measurement systems |
|
|
|
|
GB/T 42658.4-2023 表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 第4部分: 报告表面分析前纳米物体相关的来历、制备、处理和安装信息（中英文版） Surface Chemical Analysis Sample Handling, Preparation and Setup Guide Part 4: Reporting information on the origin, preparation, handling and set-up of nanoobjects prior to surface analysis |
|
|
|
|
GB/T 22461.1-2023 表面化学分析 词汇 第1部分：通用术语及谱学术语（中英文版） Surface chemical analysis Glossary Part 1: General and spectroscopic terminology |
|
|
|
|
GB/T 42543-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 悬臂梁法向弹性常数的测定（中英文版） Surface Chemical Analysis Scanning Probe Microscopy Determination of the Normal Elastic Constant of a Cantilever Beam |
|
|
|
|
GB/T 22461.2-2023 表面化学分析 词汇 第2部分： 扫描探针显微术术语（中英文版） Surface chemical analysis - Vocabulary Part 2: Scanning probe microscopy terminology |
|
|
|
|
GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析（中英文版） Surface Chemical Analysis Total Reflection X-ray Fluorescence Spectroscopy of Water |
|
|
|
|
GB/T 19502-2023 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则（中英文版） Surface chemical analysis—General principles for glow discharge emission spectroscopy methods |
|
|
|
|
GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准（中英文版） Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer |
|
|
|
|
GB/T 40128-2021 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法（中英文版） Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets |
|
|
|
|
GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染（中英文版） Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
|
|
|
|
GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法（中英文版） Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of boron in silicon |
|
|
|
|
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法（中英文版） Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films |
|
|
|
|
GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南（中英文版） Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Guidelines for ultraviolet photoelectron spectroscopy analysis |
|
|
|
|
GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准（中英文版） Surface chemical analysis—Medium resolution auger electron spectrometers—Calibration of energy scales for elemental analysis |
|
|
|
|
GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求（中英文版） Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy |
|
|
|
|
GB/T 39527-2020 实体面材产品中钙、铝、硅元素含量的测定 化学分析法（中英文版） Determination of calcium, aluminium and silicon in the solid surface materials—Method of chemical analysis |
|
|
|
|
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式（中英文版） Surface chemical analysis—Data transfer format for scanning probe microscopy |
|
|
|
|
GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告（中英文版） Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis |
|
|
|
|
GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法（中英文版） Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
|
| 找到:62條目 | [首頁]-[上一頁]-[下一頁]-[尾頁] | 去到: 1 2 3 4 |
